顆粒測量的方法很多，這些方法或是基于單個顆粒的維度，或是基于顆粒群體特征。每種方法涵蓋不同的粒徑范圍，并基于不同的物理原理。一般來說，這些方法可以分為直接觀測、基于顆粒群的光學方法和基于介質中顆粒運動的技術。常用的測量方法包括篩分法、顯微圖象(動態／靜態)法、沉降法、電阻法、激光散射法、電子顯微鏡法、光阻法、透氣法、動態光散射法等。  
       (1)篩分法具有簡單、直觀、設備造價低等特點，常用于大于40微米的樣品。其缺點是結果受人為因素和篩孔變形影響較大。  
       (2)顯微圖像法除具有簡單、直觀等特點外，還可進行形貌分析，適合分布窄(最大和最小粒徑的比值小于10:1)的樣品。其缺點是代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩。  
       (3)沉降法(包括重力沉降和離心沉降)操作簡便，儀器可以連續運行，價格低，準確性和重復性較好，測試范圍較大，缺點是測試時間較長，操作較繁瑣。  
        (4)電阻法操作簡便，可進行顆粒計數，速度快，準確性好，缺點是不適合測量小于0.1微米的顆粒樣品，對粒度分布寬的樣品需要頻繁更換小孔管。  
       (5)激光散射法操作簡便，測量速度，測量范圍寬，重復性和準確性好，可進行在線測量和干法測量，其缺點是結果受分布模型影響。  
       (6)電子顯微鏡法適合超細顆粒測量，分辨率高，可進行形貌和結構分析。其缺點是樣品少，代表性差，儀器價格昂貴。  
       (7)光阻法具有測量便捷快速，可測液體或氣體中的顆粒數，分辨力高。其缺點是不適合測量小于1微米的顆粒樣品，進樣系統要求較高，僅適合塵埃、污染物或已稀釋好的藥物進行測量。  
        (8)透氣法儀器價格低，不需對樣品進行分散，可測磁性粉體材料。其缺點是只能得到平均粒度值，不能測粒度分布，且不能測小于微米細粉。  
       (9)動態光散射法適用于亞微米及納米級顆粒的粒度測量，作為基光散射方法的一種，具有重復性和準確性好的特點，但其缺點也是測量結果受分布模型影響。  
       粒度測量技術基于多種原理，每種技術產生一個特征尺寸或等效球體的尺寸分布，對于非球形顆粒，測量結果則取決于測量原理。由于這種依賴性，采用不同技術得到的非球形顆粒的粒度分布則可能是有差異的，差異的大小很大程度上取決于顆粒的形狀。